Le Super TEM

Le développement récent des correcteurs d’aberration et des sources d’électrons très cohérentes a renforcé l’impact de la microscopie électronique sur la caractérisation de la matière à l’échelle atomique. En effet, la dernière génération d’instruments corrigés des aberrations permet d’atteindre des résolutions spatiales inférieures à l’angström et des résolutions en énergie de l’ordre du dixième d’électron volt.
La microscopie analytique et l’imagerie à haute résolution ont toutes deux grandement bénéficié de ces avancées technologiques récentes, permettant d’améliorer substantiellement les analyses structurales et chimiques des nanomatériaux. Nous décrivons ici les performances du Super TEM : un microscope JEOL ARM 80 – 200 kV, équipé d’une source FEG froide et de deux correcteurs d’aberration pour la lentille objectif et le système condenseur. Le Super TEM, premier instrument au monde dans cette configuration, a été installé en Septembre 2011 à l’Université Paris Cité. En 2014, nous avons mis en place sur le super TEM des porte-objets environnementaux à base de cellules à membranes étanches, offrant des perspectives sans précédent pour étudier, à l’échelle atomique, les nanomatériaux dans leurs milieux d’applications, liquides ou gazeux. Le correcteur STEM a été installé en 2019 avec des détecteurs EDX à grand angle solide.
Cette nouvelle génération d’instrument in situ est ouverte à la communauté scientifique à travers la plate-forme de microscopie avancée de l’Université Paris cité et le réseau national METSA.