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Plateforme RAMAN-AFM

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Le microscope RAMAN-AFM WITEC alpha300R du Laboratoire Matériaux et Phénomènes Quantiques (MPQ) fait partie de la plateforme AFM-BEAM-REX de l’Université de Paris. La plateforme est pilotée conjointement par MPQ et le laboratoire Interfaces Traitement Organisation et Dynamique des Systèmes (ITODYS, l’institut de chimie). Cette plateforme offre la possibilité non seulement d’effectuer une imagerie confocale par spectroscopie Raman de différents échantillons avec une résolution spatiale élevée, inférieure au micron, mais également de la combiner et de la comparer avec des mesures de microscopie à force atomique (AFM). Le système est conçu pour que l’imagerie Raman et AFM puissent être effectuées soit simultanément, soit de façon co-localisé séquentiellement. Les platines linéaires motorisées x-,y-, z- permettent d’effectuer des balayages de grande surface pour différentes distances entre une surface d’échantillon et un objectif, ce qui est essentiel dans le cas d’échantillons non plats. La combinaison d’étages motorisés et piézo permet d’effectuer des scans de haute précision dans les zones sélectionnées.

L’instrument RAMAN-AFM est accessible à la communauté scientifique de l’Université de Paris, et également aux utilisateurs extérieurs académique ou industriels. Afin d’avoir accès à l’instrument, vous devez soumettre une demande de réservation à Alexandr Alekhin en précisant les modes souhaités : imagerie Raman, AFM, Raman-AFM simultané / co-localisé (mail). Les nouveaux utilisateurs devront d’abord suivre une formation avant de pouvoir utiliser l’instrument de façon autonome.