Le microscope RAMAN-AFM WITEC alpha300R du Laboratoire Matériaux et Phénomènes Quantiques (MPQ) fait partie de la plateforme AFM-BEAM-REX de l’Université de Paris financée par la région Ile-de-France (Sésame) et l’IDEX Université de Paris. La plateforme est pilotée conjointement par MPQ et [le laboratoire Interfaces Traitement Organisation et Dynamique des Systèmes (ITODYS)
Le microscope RAMAN-AFM WITEC offre la possibilité non seulement d’effectuer une imagerie confocale par spectroscopie Raman de différents échantillons avec une résolution spatiale élevée, inférieure au micron, mais également de la combiner et de la comparer avec des mesures de microscopie à force atomique (AFM). Le système est conçu pour que l’imagerie Raman et AFM puissent être effectuées soit simultanément, soit de façon co-localisé séquentiellement. Les platines linéaires motorisées x-,y-, z- permettent d’effectuer des balayages de grande surface pour différentes distances entre une surface d’échantillon et un objectif, ce qui est essentiel dans le cas d’échantillons non plats. La combinaison d’étages motorisés et piézo permet d’effectuer des scans de haute précision dans les zones sélectionnées.
L’instrument RAMAN-AFM est accessible à la communauté scientifique de l’Université de Paris, et également aux utilisateurs extérieurs académique ou industriels. Afin d’avoir accès à l’instrument, vous devez soumettre une demande de réservation à Alexandr Alekhin en précisant les modes souhaités : imagerie Raman, AFM, Raman-AFM simultané / co-localisé (mail). Les nouveaux utilisateurs devront d’abord suivre une formation avant de pouvoir utiliser l’instrument de façon autonome.
Contacts :
Responsable Scientifique : Yann Gallais
Responsable technique : Alexandr Alekhin
Spécifications techniques de l’appareil :
Raman
Longueurs d’onde Laser : 532nm et 633nm
Spectromètre Focale 300mm, 3 réseaux de diffraction : 600, 1800 et 2400 traits/mm
Détecteur CCD (pixels : 26x26 microns) “back illuminated” (rendement quantique >90% sur 500-700nm) refroidie à -50C
Microscope Confocal à illumination de Kohler. Objectifs Zeiss : x100/0.9NA, x50/0.55NA, x20/0.4NA et x10/0.25NA, x100 à immersion huile
Platines de translation xy motorisée (50x50mm2), pas de 25nm.
z-focus motorisé (resolution 10nm)
"z-stack" imagerie Raman 3D
Filtres de Bragg à 532nm et 633nm permettant des mesures Stokes-anti-Stokes jusqu’à +10/-10 cm-1 (suivant l’échantillon).
Mesures résolues en polarisation : Lame demi-onde et analyseur pour mesure en polarisations linéaires
AFM
Modes Contact, AC, contact intermittent, force latérale
Scanner xyz piezoélectriques (100x100 microns xy et 20 microns z). - Resolution 0.3(xy)/0.2nm(z)
Imagerie multimodale
Imagerie Raman-AFM simultanée ou séquentielle co-localisée
