Le SUPER TEM
Le développement récent des correcteurs d’aberration et des sources d’électrons très cohérentes a renforcé l’impact de la microscopie électronique sur la caractérisation de la matière à l’échelle atomique. (...)
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Le développement récent des correcteurs d’aberration et des sources d’électrons très cohérentes a renforcé l’impact de la microscopie électronique sur la caractérisation de la matière à l’échelle atomique. (...)